​​追蹤式雷射掃描系統

Optical 3D Measuring and Dynamic Tracking without Markers

FREESCAN TRAK PRO 追蹤式雷射掃描系統，由SHINING 3D自主研發，使用特色技術可通過光學追蹤器實時追蹤定位掃描頭的空間位置，來獲取大中型樣件完整準確的3D數據。掃描時無需貼點，節省大量時間，其適用於航空航天、汽車工業、軌道交通、能源領域等製造業的中大型3D掃描靜態/動態場景。 

動態追蹤，無需貼點
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系統可實時追蹤定位掃描頭，不受相對位置移動、震動影響。

FreeScan Trak Pro2 便攜式光學座標測量系統是用於品質控制和 3D檢測的理想計量工具。
具有高精度和可重複性，無需標記即可快速、準確地檢查各種零件類型和表面。
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與選購的 FreeProbe 搭配使用時，使用者可以將接觸式探測無縫整合到光學掃描流程中，實現更快速、更方便的整體偵測工作流程。
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掃描模式

50 條交叉雷射線：快速、高精度掃描
7 條平行雷射線：局部高清掃描，實現極其精細的細節
1 條單雷射線：深孔掃描（孔徑：深度比為 1:4）
支援光學追蹤和標記掃描

強大且直覺的軟體
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網格資料即時顯示
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當您掃描工件時，我們直觀、簡化的軟體會即時顯示網格數據，
​從而節省稍後進行點雲網格劃分的時間。

​數據品質視覺化
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使用者可透過觀察投射到物體上的雷射線的顏色來判斷掃描距離是否合適。還有一個內建的數據品質指標來確定哪些部分數據不足。

精細度

FreeScan Trak Pro2 提供計量級掃描結果，具有卓越的精度，可達 0.023 mm。
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*基於VDl/VDE 2634，在經過ISO/IEC 17025:2017 認證的精度實驗室中，在環境條件為：溫度的情況下，透過在工作體積內的不同位置和方向測量可追蹤長度的工件和標記來評估球體間距誤差20±0.5℃；濕度40~60%RH。

測量範圍寬

FreeScan Trak Pro2 廣泛且可擴展的追蹤範圍可測量廣泛的體積和表面，而不會影響精度或 在掃描過程中需要傳統的跨越。

IDEAL METROLOGY TOOL
FOR QUALITY CONTROL
AND 3D INSPECTION

產品規格

FREEsCAN trak Pro 2型錄

精細度

FreeScan Trak Pro 2

FreeProbe (optional)

精準度

0.023 mm (0.0009 in)

0.025 mm (0.0009 in)

體積精度*

9.6 m³ : 0.062 mm (339 ft3: 0.0024 in)
17.6 m³ : 0.072 mm (622 ft3: 0.0028 in)

體積精度* 與攝影測量

0.044 mm + 0.012 mm/m
(0.0017 + 0.0004 in/ft)

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規格

產品型號
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掃描速度
最大視角
點距
掃描深度
推薦物體尺寸

重量
尺寸
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光源

FreeScan Trak Pro 2

FreeProbe (optional)

高達 3,070,000 點/秒
650 x 580 mm（25.5 x 22.8 吋）
0.01 ~ 10 mm（0.0003 ~ 0.39 吋）
400 mm（15.7 吋）
0.1 ~ 10 m (3.937 ~ 393.7 吋)
FreeTrak：7.2 公斤（15.8 磅）
TE25：1.47 公斤（3.2 磅）
FreeTrak：1079 x 237 x 110 mm（42.4 x 9.3 x 4.3 吋）
TE25：281 x 283 x 290 mm（11.1 x 11.1 x 11.4 吋）
FreeTrak：紅外線 LED
TE25：50 條交叉雷射線、7 條平行雷射線、1 條單雷射線

100 次測量/秒
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0.5 公斤（1.1 磅）

70 x 150 x 340 mm
（2.7 x 5.9 x 13.3 英吋）

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推薦電腦配置

作業系統：Windows 10 專業版（64 位元）/Windows 11 專業版（64 元）；
CPU：第13代Intel(R)Core(TM)i7-13650HX 2.6GHz以上；
顯示卡：NVIDIA GeForce RTX 4060以上
儲存：8GB或以上；
記憶體：64GB以上，DDR5雙通道； USB連接埠：USB 3.0